產(chǎn)品詳情
華測儀器新研發(fā)：表面電位衰減測試系統(tǒng)
日期：2025-07-19 04:11
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摘要：近日，華測儀器推出新產(chǎn)品：表面電位衰減測試系統(tǒng)，用于評估介質材料表面電荷動態(tài)衰減行為及陷阱能級分布。
表面電位衰減測試系統(tǒng)
表面電位衰減測試系統(tǒng)是一款面向材料電學特性研究的高精度、多功能分析設備，**評估介質材料表面電荷動態(tài)衰減行為及陷阱能級分布而設計，集高壓極化、準確溫控、快速信號采集及智能化分析于一體，支持針、柵、板三種電極配置，可模擬不同溫濕度環(huán)境下的材料電荷動態(tài)響應，為絕緣材料、功能薄膜、電子器件等領域的研發(fā)與質量控制提供關鍵數(shù)據(jù)支持。1.產(chǎn)品優(yōu)勢
高壓極化與準確控制- 支持±30 kV寬范圍高壓輸出，負載調整率≤0.5%，穩(wěn)定性≤0.1%/h，確保極化過程穩(wěn)定可靠。
- 高精度控溫加熱臺（室溫~160℃，±0.2℃），結合濕度可調電極箱體，滿足復雜環(huán)境模擬需求。
- 電位測量范圍達±10 kV，精度1 V，采集頻率＞1次/秒，搭配5~20 ms高速響應，準確捕捉瞬態(tài)電位變化。
- 配備專用采集卡與中文分析軟件，自動提取陷阱分布參數(shù)，一鍵生成衰減曲線及深度分析報告。
- 提供銀/黃銅材質針、柵、板電極，電極間隙0~100 mm動態(tài)可調，適配不同樣品形態(tài)與測試場景。
- 集成化電極箱體整合加熱臺、支架及濕度模塊，大幅提升實驗效率與重復性。
- 電壓調整率≤0.1%，溫度系數(shù)≤0.1%/℃，確保長時間測試數(shù)據(jù)一致性；輸出電流限制≤1 mA，符合高壓操作防護標準。
2.技術參數(shù)
充電電源：±30 kV加熱臺溫度范圍：室溫 ~ 160 ℃
控溫精度：± 0.2 ℃
輸入電壓：AC 220 V ±10%，50 HZ
額定輸出電壓：0～+30kV
額定輸出電流：≤ 1 mA
溫度系數(shù)：≤ 0.1 %/℃
測量范圍：0 ~ ±10 kV
穩(wěn)定性：時間漂移<100 ppm/小時（非累積）；溫度漂移<200 ppm/℃
極化電極：針、柵、板電極
電極材質：銀或黃銅
3.應用領域
絕緣材料研發(fā)評估高壓電纜、電容器薄膜等介電材料的耐壓性能與電荷消散特性；
功能薄膜分析
研究光伏背板、柔性電子器件的表面電荷行為及陷阱效應；
半導體器件優(yōu)化
表征柵極介質層、封裝材料的電荷陷阱分布，提升器件可靠性；
科研與教育
高校及實驗室用于電介質物理、材料科學等領域的基礎研究與教學實驗；
電力設備質檢
檢測絕緣子、變壓器套管等電力裝備的絕緣老化狀態(tài)及壽命預測。
