- 新品推薦
- 靜電系列
- 脈沖發(fā)生器
-
功能材料系列
-
紅外光纖激光測(cè)振儀
-
高溫介電溫譜測(cè)試儀
-
儲(chǔ)能新材料電學(xué)綜合測(cè)試系...
-
熱釋電系數(shù)測(cè)試儀
-
高低溫冷熱臺(tái)
-
50點(diǎn)耐壓測(cè)試系統(tǒng)
-
閉孔溫度破膜溫度測(cè)試儀
-
鋰離子電池隔膜電弱點(diǎn)測(cè)試...
-
多通道介電/電阻測(cè)試模塊
-
壓電系數(shù)測(cè)試儀
-
探針臺(tái)
-
高壓薄膜極化裝置
-
功能材料電學(xué)綜合測(cè)試系統(tǒng)
-
阻抗分析儀
-
電介質(zhì)充放電系統(tǒng)
-
半導(dǎo)體封裝材料TSDC測(cè)...
-
高溫絕緣電阻測(cè)試儀
-
鐵電測(cè)試系統(tǒng)
-
鐵電分析儀
-
紅外光纖激光測(cè)振儀
- 功率放大器系列
- 功能材料試驗(yàn)設(shè)備
-
工程塑料絕緣材料系列
-
絕緣材料測(cè)試儀器
-
高頻高壓絕緣電阻、介電測(cè)...
-
塞貝克系數(shù)電阻測(cè)試儀
-
介質(zhì)損耗分析系統(tǒng)
-
傳感器多功能綜合測(cè)試系統(tǒng)
-
絕緣電阻劣化(離子遷移)...
-
變溫極化耐擊穿測(cè)試儀(高...
-
電容器溫度特性評(píng)估系統(tǒng)
-
耐壓絕緣測(cè)試儀
-
空間電荷測(cè)量系統(tǒng)
-
表面、體積電阻率測(cè)試儀(...
-
耐電弧試驗(yàn)儀
-
電壓擊穿試驗(yàn)儀
-
工頻介電常數(shù)測(cè)試儀
-
低壓漏電起痕試驗(yàn)儀
-
半導(dǎo)體封裝材料TSDC測(cè)...
-
絕緣材料電阻評(píng)價(jià)平臺(tái)
-
長(zhǎng)期耐腐蝕老化試驗(yàn)平臺(tái)
-
絕緣診斷測(cè)試系統(tǒng)
-
導(dǎo)電與防靜電體積電阻率測(cè)...
-
絕緣材料測(cè)試儀器
- 儲(chǔ)能科學(xué)與工程試驗(yàn)設(shè)備
- 附件及配件
多通道介電/電阻測(cè)試模塊
產(chǎn)品功能
LCR 多路測(cè)試軟件
1.掃描、比較器
針對(duì)通道設(shè)置測(cè)試條件(量程、頻率、比較器等)
可選定某個(gè)通道的 ON 與 OFF
可循環(huán)進(jìn)行掃描測(cè)試
同時(shí)可在本地保存測(cè)試條件
2.OPEN&SHORT 補(bǔ)償
可對(duì)應(yīng)各通道的開(kāi)短路補(bǔ)償
如若利用 LCR 的設(shè)置切換功能則需要較長(zhǎng)的切換時(shí)間,在軟件內(nèi)進(jìn)行開(kāi)短路補(bǔ)償計(jì)算,可維持高速的掃描時(shí)間
3.數(shù)據(jù)保存
9掃描的數(shù)據(jù)可根據(jù)通道進(jìn)行保存
參數(shù)規(guī)格
1.電源:工頻電源
額定電源電壓: AC 100 V~240 V (已考慮相對(duì)于額定電源電壓的 ±10%的電壓波動(dòng))
額定功率上限: 30 VA
2.顯示:電源指示燈、錯(cuò)誤指示燈、遠(yuǎn)程指示燈
3.接口:USB、LAN、RS-232C
4.體積重量:340(W)×190(H)×180(D)mm(不含突起物),2.4kg
5.附件:電源線(xiàn)、使用說(shuō)明書(shū)
6.選件:連接電纜L2004
RS-232
7.支持的儀器:Keysight、Tonghui、Wayne Kerr、HIOKI、Huace等儀表
8.通道數(shù):10通道
9.回路電阻:0.5Ω(輸入-輸出端子、參考値)
10.靜電電容:0.2 pF(輸入端子-OFF通道間、有Guard、參考値)
11.接點(diǎn)規(guī)格:輸入電壓1000V
12.允許電流容量:200 mA (AC peak/DC)
13.絕緣電阻:100 TΩ以上(通道-外殼之間/通道屏蔽層-外殼之間(LCUR除外)
14.切換時(shí)間:1.0 ms
應(yīng)用領(lǐng)域
1.半導(dǎo)體與電子器件研發(fā)
2.新能源與電力設(shè)備
3.材料科學(xué)研究
4.工業(yè)質(zhì)量控制